מעבדה מתקדמת בכימיה פיזיקלית - ניסוי 3

עודכן: 29.03.2023

מעבדה מתקדמת בכימיה פיזיקלית - ניסוי 3

Point Contact and Molecular Junctions
'פוינט קונטקט' וצמתים מולקולריים

 

בניסוי 'פוינט קונטקט' נתנסה בשיטות פבריקציה, איפיון ומדידה של צמתים מולקולריים.

 

הניסוי נחלק לארבעה חלקים.

 

  1. שבוע ראשון - שבוע הכנה.
     
  2. שבוע שני - נלמד על שיטת הפוטוליתוגרפיה המהווה את השיטה המרכזית לפבריקציה של התקנים מיקרוסקופיים בתעשיה המיקרואלקטרוניקה ובכלל. חלק זה מתבצע כולו בחדר הנקי שבמרכז הננו. 
     
  3. שבוע שלישי - נכיר את שיטת האלקטרומגרציה בה משתמשים ליצור ננו-גאפים בסד"ג של אנגסטרמים בודדים. ננו גאפים מאפשרים בין היתר ללכידה של מולקולות בין אלקטרודות. בנוסף, נייצר צמתי 'Point contact' המייצגים צמתים בהם ננו גאפ מגושר ע"י אטום בודד של מתכת. חלק זה מתבצע במעבדה וכולל מדידות ואיפיון חשמלי של צמתים באמצעות פרוב סטיישן.
     
  4. שבוע רביעי והאחרון - נלמד על מכשיר ה-SEM (מיקרוסקופ מנהור סורק) ונאפיין באמצעותו דגמים שהכנו בשני השלבים הראשונים.

 

הכנה וחומר תיאורטי

בשבוע הראשון תקבלו את החומר התיאורטי לניסוי  כולו, לפני כל חלק בניסוי יש ללמוד את החומר הרלבנטי לו ולענות על שאלות הכנה בהתאם לבקשת המדריך.

חומר ההכנה כולל:

 

שבוע שני - ליתוגרפיה

 

שבוע שלישי - אלקטרומגרציה

 

שבוע רביעי - מיקרוסקופ אלקטרונים סורק 'SEM'

 

 

 

:Below is the update information for the Point Contact experiment

 

Abstract: When the size of electrical conductors becomes comparable to the characteristic wavelength of their charge carriers, the wave-nature of these carriers becomes apparent in their conduction properties. In this experiment we will learn about this phenomenon by measuring the conductance of a single gold atom. The experiment is divided into three parts including fabrication methods, characterization and electrical measurements of single gold atom junctions. The first week we’ll learn how to make nano constrictions with a width below 100 nm by e-beam lithography technique in TAU nano center. In the second week, the electromigration method for creating point-contacts and nanogaps will be introduced. This part is performed at the lab of Prof. Yoram Selzer and includes electrical characterization of the junctions. The third week teaches about scanning electron microscopy (SEM) which will be used to characterize the dimension of samples produced in the previous parts.

 

 

 

אוניברסיטת תל אביב עושה כל מאמץ לכבד זכויות יוצרים. אם בבעלותך זכויות יוצרים בתכנים שנמצאים פה ו/או השימוש
שנעשה בתכנים אלה לדעתך מפר זכויות, נא לפנות בהקדם לכתובת שכאן >>